涂層測(cè)厚儀能測(cè)量陽(yáng)極氧化膜厚度嗎？

陽(yáng)極氧化膜常常是指鋁或合金類的基材上的一種保護(hù)膜層，能為這類基材帶來(lái)如抗蝕、耐磨、吸附、絕緣等性能。在酸性溶液中，鋁陽(yáng)極在外電流作用下氧化時(shí)，同時(shí)發(fā)生兩個(gè)過(guò)程：氧化膜的生成和氧化膜的溶解，當(dāng)成膜的速度超過(guò)膜溶解的速度時(shí)，鋁表面才有氧化膜的實(shí)際存在，這就形成了陽(yáng)極氧化膜。

陽(yáng)極氧化膜由兩層組成,外層稱為多孔層，較厚、疏松多孔、電阻低。內(nèi)層稱為阻擋層(亦稱活性層)，較薄、致密、電阻高。那么可以用涂層測(cè)厚儀測(cè)量出陽(yáng)極氧化膜層的厚度嗎？

圖為：果歐GTS820NF渦流涂層測(cè)厚儀測(cè)量蘋果手機(jī)后蓋的陽(yáng)極氧化膜層厚度數(shù)值

答案是用渦流涂層測(cè)厚儀可以測(cè)量出陽(yáng)極氧化膜層的厚度。

在行業(yè)內(nèi)氧化膜的厚度一般在10um(微米)左右，氧化膜的孔徑在100nm~200nm之間，孔距300~500nm之間。由此可見(jiàn)，要想測(cè)量出陽(yáng)極氧化膜的厚度就需要用到高精度儀器，而涂層測(cè)厚儀可測(cè)量0-5000um之間的涂層，儀器的原理的渦流效應(yīng)。儀器利用高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。

電渦流式傳感器具有測(cè)量范圍大、靈敏度高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、抗干擾能力強(qiáng)和可以非接觸測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究各個(gè)領(lǐng)域中。

總結(jié)：

如果要此類鋁或合金類基材上的陽(yáng)極氧化膜層厚度可以用渦流式涂層測(cè)厚儀，或是磁性和渦流一體的涂層測(cè)厚儀。

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